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半导体晶圆自动测试系统已安装就位,欢迎免费测试!

阅读:205      发布时间:2024-6-6
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图:INVENIO FTIR-MAPPIR II

 

布鲁克(北京)科技有限公司上海客户体验中心,新近安装了傅立叶变换红外半导体晶圆自动测试系统。

 

客户体验中心这套系统附件多样、扩展口丰富、功能齐备,可以实现:

  • 直径4寸6寸8寸的晶圆镜面反射和透射自动多点测量

  • 根据ASTM/SEMI MF1391标准,进行室温下硅晶圆中代位碳原子含量分析

  • 根据ASTM/SEMI MF1188标准,进行室温下硅晶圆中间隙氧含量分析

  • 同质、异质外延层厚度分析,专业的拟合分析软件,可用于亚微米量级至毫米量级单层、多层外延层厚度分析

  • 磷硅玻璃(PSG)和硼磷硅玻璃(BPSG)中硼和磷含量定量分析

  • SiN等离子层和Si-O基钝化层等膜层分析

 

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   SiC同质外延厚度  

 

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单晶Si中代位碳,间隙氧含量

 

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Si-SiO2-Si外延厚度

 

 

诚挚欢迎各位老师的莅临、参观、试用、体验与指导!


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